Modélisation et simulation d'un banc de mesures des caractéristiques I-V d'un panneau photovoltaïque avec évaluation des performances d'acquisition: : Comparaison entre la carte Raspherry Pi et le microcontrôleur ESP32 [texte imprimé] / Dib Kor Faye, Auteur ; Senghane Mbodji, Directeur de publication, rédacteur en chef . - Bambey (SENEGAL) : Université Alioune Diop, 2026 . - 61 f. multigr. ; 30. Langues : Français (fre)
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Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
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| 248M | MEM-SATIC/248 PHY | Fascicule | La Bibliothèque centrale | Mémoires | Exclu du prêt |

